Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1 für nicht- ferro- + ferromagnetischeUntergründe KERN
Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1 für nicht- ferro- + ferromagnetischeUntergründe KERN
Produktnummer:
4257405020
Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1 für nicht- ferro- + ferromagnetischeUntergründe KERN
EAN-Nr.:
4045761140134
Zur Produktbeschreibung
Produktinformationen "Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1 für nicht- ferro- + ferromagnetischeUntergründe KERN"
Schichtdickenmessgerät F/N mit externem Messkopf
Handliches Schichtdickenmessgerät Datenausgang RS-232 Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen Ablesung: Messbereich 0 bis 100 µm: 0,1 µm Messbereich 100 bis 1250 µm: 1 µm Messunsicherheit (nach Kalibrierung): Standard: 1 % oder ±2,5 µm Offset-Accur: 1 % oder ±1 µm Lieferung: Mit Nullplatte, Justierfolien und 4 Micro-Batterien AAA/LR03, 1,5 V, im Tragekoffer.
Eigenschaften
| kleinste Probenfläche konvex: | 1,5 mm |
|---|---|
| kleinste Probenfläche konkav: | 25 mm |
| Maße: | 265 x 215 x 63 mm |
| Marke: | SAUTER |
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